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典型先進(jìn)封裝選型和設(shè)計(jì)要點(diǎn)

2023-05-11 15:05:57 來(lái)源:Semi Connect


(相關(guān)資料圖)

隨著電子產(chǎn)品趨向于功能化、輕型化、小型化、低功耗和異質(zhì)集成,以系統(tǒng)級(jí)封裝(System in Package, siP)、圓片級(jí)封裝( Wafer Level Package.WLP)、2.5D/3D 封裝等為代表的先進(jìn)封裝技術(shù)越來(lái)越多地應(yīng)用到電子產(chǎn)品中。

在不同的應(yīng)用場(chǎng)合,對(duì)電子產(chǎn)品的需求也不盡相同,如高頻/高速、高可靠性、高散熱、低成本、小型化集成等需求。從設(shè)計(jì)角度來(lái)看,封裝需根據(jù)電子產(chǎn)品特點(diǎn)的不同而選用不同的封裝材料和工藝。例如,針對(duì)高頻/高速,需選用傳輸損耗較小的材料;針對(duì)高可 靠性,需選用熱膨賬系數(shù) ( Coetticient of ThermalExpansion, CTE)匹配和彈性模量大的材料;針對(duì)高散熱,需要優(yōu)化封裝熱阻;針對(duì)低成本需求,可選用低成本材料和工藝;針對(duì)小型化集成,需要采用SiP 或2.5D/3D 封裝方案等。為了實(shí)現(xiàn)高性能、高可靠性的封裝集成,需要進(jìn)行芯片-封裝-PCB協(xié)同設(shè)計(jì),綜合考慮電氣性能、熱性能、材料與結(jié)構(gòu)性能,采用電-熱-力多物理男合設(shè)計(jì)和 DFx (DFM、DPR、DFT)協(xié)同設(shè)計(jì),最終建立合理的先進(jìn)封裝設(shè)計(jì)流程。4種典型的先進(jìn)封裝選型和設(shè)計(jì)要點(diǎn)如下所述。

(1) SiP封裝選型和設(shè)計(jì)要點(diǎn):SiP 技術(shù)可以將一個(gè)系統(tǒng)或子系統(tǒng)集成在個(gè)封裝內(nèi)。從廣義上來(lái)講,多芯片組件(Multi-Chip Module, MCM)封裝2.5D封裝、疊層封裝 (Package on Package, PoP) 等2D/3D封裝技術(shù)都屬于SP 技術(shù)的范疇。在設(shè)計(jì)層面,SiP 技術(shù)適用于智能手表、智能終端等小型化、模塊化需求強(qiáng)的電子系統(tǒng)中。根據(jù)工藝能力和芯片/器件特點(diǎn)的不同,可以采用2D 平鋪形式,或者采用集成度更高的 3口 堆疊或埋人形式。為了滿足電氣性能方面的需求,可采用隔離、屏蔽等技術(shù)來(lái)解決通道內(nèi)、外的噪聲千擾問(wèn)題。為了滿足熱性能方面的需求,特別是針對(duì)光學(xué)器件低結(jié)溫的特點(diǎn),可以通過(guò)優(yōu)化封裝散熱結(jié)構(gòu)和選擇合適的材料來(lái)解決多芯片的“熱點(diǎn),問(wèn)題。對(duì)于20/3D區(qū)異質(zhì)芯片集成封裝,其結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和材料的選擇需著重考慮翹曲、應(yīng)力、熱疲勞等可靠性問(wèn)題

(2) 2.5D封裝選型和設(shè)計(jì)要點(diǎn):2.5D 封裝是將多個(gè)芯片放置到硅中介轉(zhuǎn)接層上,通過(guò)硅通孔實(shí)現(xiàn)垂直互連,然后將硅中介轉(zhuǎn)接層放置到有機(jī)基板上形成一個(gè)封裝。2.5D封裝主要是為了解次低6介質(zhì)芯片節(jié)距變小的問(wèn)題,可以彌補(bǔ)有機(jī)基板工藝局限性。硅申介轉(zhuǎn)接層與芯片熱膨賬系數(shù)(CTE)相同或相近,并且有較高的熱傳導(dǎo)系數(shù),因此可以提高封裝的可靠性和散熱能力。在設(shè)計(jì)層面,2.5D封裝技術(shù)適用于 CPUFPGA與內(nèi)存集成的高密度、高速度系統(tǒng),是實(shí)現(xiàn)“儲(chǔ)算融合”的重要技術(shù)方案。2.5D 封裝技術(shù)還可用于微波系統(tǒng)異質(zhì)成,濾波器、天線、規(guī)合器等無(wú)源微波器件也可以集成在封裝內(nèi)。在數(shù)字系統(tǒng)集成應(yīng)用方面,主要采用芯片-封裝-PCB 協(xié)同設(shè)計(jì)、 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)、封裝結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)優(yōu)化等方法。徵波系統(tǒng)集成應(yīng)用主要需解決高頻傳輸、噪聲抑制、異質(zhì)芯片/器件集成等問(wèn)題。

(3)WLD 選型和設(shè)計(jì)要點(diǎn):相對(duì)于傳統(tǒng)封裝工藝,采用圓片級(jí)工藝進(jìn)行芯片封裝,可以提高生產(chǎn)效率,降低單個(gè)芯片的封裝成本。根據(jù)封裝焊球排布與芯片面積之間關(guān)系的不同,WLP 可以分為扇人型圓片級(jí)封裝 (Fan-in WLP)和扇出型圓片級(jí)封裝(FOWLP)。WLP 去除了基板金線或C4 焊球,降低了成本和互連線的寄生參數(shù),封裝厚度更薄,可適用更高頻率的信號(hào)傳輸。在設(shè)計(jì)層面,扇人型圓片級(jí)封裝由于封裝尺寸有限,適用于對(duì)外互連數(shù)較少的低成本芯片封裝需求。扇出型圓片級(jí)封裝可應(yīng)用于高速芯片甚至微波芯片封裝,而且可實(shí)現(xiàn)多芯片系統(tǒng)集成。扇出型園片級(jí)封裝設(shè)計(jì)的重點(diǎn)是針對(duì)圓片級(jí)工藝過(guò)程中的翹曲和局部應(yīng)力進(jìn)行試驗(yàn)設(shè)計(jì) ( Design of Experiments, DOE)。在電氣需求方面,需要從芯片-封裝-PCB 協(xié)同設(shè)計(jì)、高頻傳輸設(shè)計(jì)等方面保證系統(tǒng)中高頻、高速信號(hào)的傳輸。

(4)PoP 封裝選型和設(shè)計(jì)要點(diǎn):PoP 是指將封裝好的芯片堆疊到另一個(gè)封裝上的 3D封裝方法。采用PoP 可以縮短上、下封裝系統(tǒng)之問(wèn)的互連長(zhǎng)度上、下封裝體互連通道也能提供足夠的互連帶究,整體封裝尺寸也會(huì)減小。下層封裝多采用常規(guī)的球柵陣列 (Ball Crid Aray, BGA)封裝形式;為了進(jìn)一步降低封裝厚度和成本,下層封裝可以采用 Fan-out 封裝形式。在設(shè)計(jì)層面,PoP 的典型應(yīng)用是智能終端中的處理器和內(nèi)存系統(tǒng)的集成,采用PoP 可以縮短儲(chǔ)算系統(tǒng)間的傳輸延遲并提高帶寬。從設(shè)計(jì)角度來(lái)看,PoP 主要需解決上、下層封裝體翹曲控制,了D封裝中的散熱,以及信號(hào)完整性和電源完整性等問(wèn)題。

審核編輯:湯梓紅

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